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• 주사 전자현미경, 走査電子顯微鏡, Scanning Electron Microscope, SEM

  전자빔이 샘플(Sample)의 표면에 주사하면서 샘플과의 상호작용에 의해 발생된 2차 전자(Secondary Electron) 또는 후방 산란 전자(back scattered electron)를 이용해서 샘플의 표면을 관찰하는 현미경. 광학현미경에 비해 초점 심도가 2배 이상 깊고, 또한 광범위하게 초점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는...